REFLECTION IMAGING USING A SCANNING-TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPE

被引：0

作者：

MILNE, RH

HOWIE, A

WALLS, MG

机构：

来源：

INSTITUTE OF PHYSICS CONFERENCE SERIES | 1988年 / 93期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

Combined reflection imaging and spectroscopy in the STEM provides a basis for

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页码：261 / 262

页数：2

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共 4 条

[1]

HOWIE A, 1985, I PHYS C SER, V78, P117

[2]

MILNE RH, 1987, I PHYS C SER, V90, P181

[3]

MILNE RH, 1985, I PHYS C SER, V78, P95

[4] REFLECTION ELECTRON-MICROSCOPY [J].

YAGI, K .

JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, 1987, 20 (03) :147-160