MEASUREMENT OF WIENER KERNELS WITH BINARY RANDOM SIGNALS

被引：8
作者：
ARACH, J
机构：
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON AUTOMATIC CONTROL | 1970年 / AC15卷 / 01期
关键词：
D O I：
10.1109/TAC.1970.1099387
中图分类号：
TP [自动化技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
引用
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页码：123 / &
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共 3 条
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