TRANSIENTS IN TESTING TRANSFORMERS DUE TO GENERATION OF SWITCHING IMPULSES

被引：1

作者：

KIND, D ^{[1
]}

WEHINGER, H ^{[1
]}

机构：

[1] TECH UNIV BRUNSWICK,INST HIGH VOLTAGE,D-3300 BRUNSWICK,FED REP GER

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON POWER APPARATUS AND SYSTEMS | 1978年 / 97卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1109/TPAS.1978.354519

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：563 / 568

页数：6

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共 7 条

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