A Test- and Drive Circuit for a novel 3D Connection Technology

被引：3

作者：

Bschorr, M. ^{[1
]}

Pfleiderer, H-J ^{[1
]}

Benkart, P. ^{[2
]}

Kaiser, A. ^{[2
]}

Munding, A. ^{[2
]}

Kohn, E. ^{[2
]}

Heittmann, A. ^{[3
]}

Huebner, H. ^{[3
]}

Ramacher, U. ^{[3
]}

机构：

[1] Univ Ulm, Abt Allgemeine Elektrotech & Mikroelekt, Albert Einstein Allee 43, D-89081 Ulm, Germany

[2] Univ Ulm, Abt Elekt Bauelemente & Schaltungen, Ulm, Germany

[3] Infineon Technol AG, Unterhaching, Germany

来源：

关键词：

D O I：

10.5194/ars-3-305-2005

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

[No abstract available]

引用

页码：305 / 310

页数：6