PREVALENT ERROR SOURCES IN TRANSISTOR DELAY-TIME MEASUREMENTS

被引:1
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作者
SAWYER, DE [1 ]
机构
[1] NBS,INST APPL TECHNOL,WASHINGTON,DC 20234
关键词
D O I
10.1109/TNS.1972.4326819
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页数:4
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