X-RAY SPECTRAL MEASUREMENT SYSTEM FOR NANOSECOND PLASMAS

被引：35

作者：

JOHNSON, DJ ^{[1
]}

机构：

[1] USAF,WEAP LAB,KIRTLAND AFB,NM 87117

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1686585

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：191 / 194

页数：4

共 18 条

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