GRAPHICAL METHOD FOR ESTIMATING PHONON-SCATTERING AND IMPURITY-SCATTERING CONTRIBUTIONS IN HEAVILY DOPED SEMICONDUCTORS

被引：2
作者：
ROWE, DM
机构：
来源：
ELECTRONICS LETTERS | 1971年 / 7卷 / 11期
关键词：
D O I：
10.1049/el:19710217
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
引用
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页码：315 / &
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