QUANTITATIVE X-RAY MICROANALYSES OF SILICATES .2.

被引：0
|
作者：
JUREK, K
SKVARA, F
机构：
[1] CZECHOSLOVAK ACAD SCI, SPOLECNA LAB CHEM TECHNOL, SILIKAZU, SUCHBATAROVA 1905, PRAGUE 6, CZECHOSLOVAKIA
[2] INST CHEM TECHNOL, SUCHBATAROVA 1905, PRAGUE 6, CZECHOSLOVAKIA
[3] CZECHOSLOVAK ACAD SCI, GEOLOG USTAV, SUCHDOL 2, PRAGUE 6, CZECHOSLOVAKIA
来源：
SILIKATY | 1973年 / 17卷 / 04期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TQ174 [陶瓷工业]; TB3 [工程材料学];
学科分类号：
0805 ; 080502 ;
摘要：
引用
收藏
页码：349 / 354
页数：6
相关论文
共 50 条
12345