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SI DONOR NEUTRALIZATION IN HIGH-PURITY GAAS
被引:0
作者
:
PAN, N
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0
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0
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0
机构:
UNIV ILLINOIS,CTR CMPD SEMICOND MICROELECTR,MAT RES LAB,URBANA,IL 61801
PAN, N
LEE, B
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0
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机构:
UNIV ILLINOIS,CTR CMPD SEMICOND MICROELECTR,MAT RES LAB,URBANA,IL 61801
LEE, B
BOSE, SS
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机构:
UNIV ILLINOIS,CTR CMPD SEMICOND MICROELECTR,MAT RES LAB,URBANA,IL 61801
BOSE, SS
PLANO, MA
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机构:
UNIV ILLINOIS,CTR CMPD SEMICOND MICROELECTR,MAT RES LAB,URBANA,IL 61801
PLANO, MA
KIM, MH
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机构:
UNIV ILLINOIS,CTR CMPD SEMICOND MICROELECTR,MAT RES LAB,URBANA,IL 61801
KIM, MH
HUGHES, JS
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h-index:
0
机构:
UNIV ILLINOIS,CTR CMPD SEMICOND MICROELECTR,MAT RES LAB,URBANA,IL 61801
HUGHES, JS
STILLMAN, GE
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h-index:
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机构:
UNIV ILLINOIS,CTR CMPD SEMICOND MICROELECTR,MAT RES LAB,URBANA,IL 61801
STILLMAN, GE
ARAI, K
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0
h-index:
0
机构:
UNIV ILLINOIS,CTR CMPD SEMICOND MICROELECTR,MAT RES LAB,URBANA,IL 61801
ARAI, K
机构
:
[1]
UNIV ILLINOIS,CTR CMPD SEMICOND MICROELECTR,MAT RES LAB,URBANA,IL 61801
[2]
UNIV ILLINOIS,CTR CMPD SEMICOND MICROELECTR,COORDINATED SCI LAB,URBANA,IL 61801
[3]
NEC CORP,DIV CMPD SEMICOND DEVICES,KAWASAKI,KANAGAWA 213,JAPAN
来源
:
JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS
|
1987年
/ 16卷
/ 04期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:A10 / A10
页数:1
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