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RELIABILITY TESTING OF BAC HYBRID CIRCUITS
被引：1
作者：
TAYLOUR, CH
[1
]
机构：
[1] BRITISH AIRCRAFT CORP LTD,DIV GUIDED WEAPONS,BRISTOL BS99 7AR,ENGLAND
来源：
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY
|
1977年
/
16卷
/
04期
关键词：
D O I：
10.1016/0026-2714(77)90426-7
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
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页码：295 / 302
页数：8
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