TEMPERATURE-DEPENDENCE OF RADIATION-INDUCED DEFECT CREATION IN A-SIO2

被引:7
作者
DEVINE, RAB
GROUILLET, A
BERLIVET, JY
机构
关键词
D O I
10.1016/0168-583X(88)90229-7
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
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页码:307 / 310
页数:4
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