A TTL-ECL TEST INTERFACE CIRCUIT

被引：0

|

作者：

HART, B

机构：

来源：

ELECTRONIC ENGINEERING | 1991年 / 63卷 / 779期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

收藏

页码：28 / &

相关论文

共 50 条

[31] NOT ALL TTL CIRCUIT BOARDS ARE COMPATIBLE
CHAN, YM
STRAUSS, HL
APPLIED SPECTROSCOPY, 1986, 40 (04) : 563 - 563
[32] CMOS/TTL/ECL混合电路系统及其信号传输
胡军
彭心炯
计算机工程与科学, 1999, (02) : 77 - 81
[33] BLAST TRANSFORMATION TEST (TTL)
SABBAH, A
OUEST MEDICAL, 1977, 30 (11): : 714 - 714
[34] POSITION DETECTOR WITH DIRECT TTL INTERFACE
OBRDA, P
ELECTRONIC ENGINEER, 1971, 30 (10): : 69 - &
[35] BIT-SLICE PARTS APPROACH ECL SPEEDS WITH TTL POWER LEVELS
MRAZEK, D
ELECTRONICS, 1978, 51 (23): : 107 - 112
[36] SIMPLE TTL INTEGRATED-CIRCUIT TESTERS
SKOLETSKII, IP
INSTRUMENTS AND EXPERIMENTAL TECHNIQUES, 1980, 23 (05) : 1228 - 1232
[37] ECL CIRCUIT CALIBRATES PHASE METERS
SADOWSKI, M
EDN, 1988, 33 (12) : 260 - 260
[38] The Connection Methods of the Unused Inputs in TTL Circuit and the Effects on the Characteristics of the Circuit
杨家禾
周庆
杨雪玲
云南大学学报(自然科学版), 1998, (06)
[39] 高速双极型逻辑集成电路——ECL、TTL近况
于绍庸
电子计算机参考资料, 1970, (05) : 1 - 7
[40] DYNAMIC MALFUNCTION LIMITS IN HIGH-SPEED TTL AND ECL INTEGRATED DIGITAL GATES
ABDELLAT.M
STRUTT, MJO
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY, 1973, 12 (01): : 57 - 60

← 1 2 3 4 5 →