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COMPOSITIONAL MAPPING WITH THE ELECTRON-MICROPROBE AND SECONDARY ION MASS-SPECTROMETRY
被引:0
作者
:
NEWBURY, DE
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0
机构:
NBS,CTR ANALYT CHEM,GAITHERSBURG,MD 20899
NBS,CTR ANALYT CHEM,GAITHERSBURG,MD 20899
NEWBURY, DE
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1
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MARINENKO, RB
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NBS,CTR ANALYT CHEM,GAITHERSBURG,MD 20899
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MARINENKO, RB
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BRIGHT, DS
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BRIGHT, DS
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MYKLEBUST, RL
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MYKLEBUST, RL
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1
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机构
:
[1]
NBS,CTR ANALYT CHEM,GAITHERSBURG,MD 20899
来源
:
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY
|
1988年
/ 135卷
/ 08期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号
:
081704 ;
摘要
:
引用
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页码:C372 / C372
页数:1
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