CRYOSTAT FOR MEASURING THE ELECTRICAL PROPERTIES OF HIGH RESISTANCE SEMICONDUCTORS AT LOW TEMPERATURES

被引:15
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作者
MITCHELL, WH
PUTLEY, EH
机构
来源
JOURNAL OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1959年 / 36卷 / 03期
关键词
D O I
10.1088/0950-7671/36/3/308
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
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页数:3
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