未找到相关数据
ULTRATHIN SECTION FOR LOW-TEMPERATURE .2.
被引：0
作者：
SAKAI, T
[1
]
机构：
[1] AKASHI SEISAKUSHO LTD,APPL LAB E M,TOKYO,JAPAN
来源：
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY
|
1973年
/
22卷
/
03期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
摘要：
引用
收藏
页码：319 / 319
页数：1
相关论文