CONT - A CONCURRENT TEST-GENERATION SYSTEM

被引:2
作者
TAKAMATSU, Y [1 ]
KINOSHITA, K [1 ]
机构
[1] HIROSHIMA UNIV,FAC INTEGRATED ARTS & SCI,DEPT INFORMAT SCI,HIROSHIMA 730,JAPAN
关键词
D O I
10.1109/43.35548
中图分类号
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号
0812 ;
摘要
引用
收藏
页码:966 / 972
页数:7
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共 13 条
[11]  
Takamatsu Y., 1985, 1985 International Symposium on Circuits and Systems. Proceedings (Cat. No.85CH2114-7), P679
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