COMPARATIVE RELIABILITY EVALUATION OF CMOS - MATURING TECHNOLOGY

被引：0

作者：

BURNS, DJ ^{[1
]}

KAPFER, VC ^{[1
]}

机构：

[1] ROME AIR DEV CTR,RBRP,GRIFFISS AFB,NY 13441

来源：

PROCEEDINGS ANNUAL RELIABILITY AND MAINTAINABILITY SYMPOSIUM | 1975年 / JAN28期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页码：354 / 359

页数：6

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共 7 条

[1]

EBEL GH, 1973, 11TH ANN P REL PHYS, P108

[2]

EWALD HJ, 1971, RADCTR71178 FIN REP

[3]

KEEN JM, 1972 IEEE INT SOL ST, P102

[4] GATE PROTECTION OF MIS DEVICES [J].

LENZLINGER, M .

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 1971, ED18 (04) :249-+

[5]

LINDWEDEL JH, 1973, RADCTR73127 FIN REP, P22

[6]

SALVO C, 1974, LIQUID CRYSTAL ANALY

[7]

F3060273C0282 CONTR