共 2 条
- [1] ANGELIDES PG, 1981, 1981 P INT S TEST FA, P253
- [2] KENG SK, 1975, MICROSTRUCTURAL SC B, V3, P511
METALLOGRAPHIC CROSS-SECTIONS AND SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY AS ANALYTICAL TOOLS IN THE FAILURE ANALYSIS OF RECTIFIERS
被引：2
作者：
VEIDIS, MV
机构：
[1] The Unitrode Corp, United States
来源：
METALLOGRAPHY
|
1989年
/
22卷
/
03期
关键词：
2;
D O I：
10.1016/0026-0800(89)90002-5
中图分类号：
TF [冶金工业];
学科分类号：
0806 ;
摘要：
引用
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页码：199 / 210
页数：12
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