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HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY WITH PHASE PLATES
被引：0
作者：
THON, F
[1
]
WILLASCH, D
[1
]
机构：
[1] SIEMENS AG MESSGERATEWERK,BERLIN,GERMANY
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
摘要：
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页码：364 / 365
页数：2
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