DETERMINATION OF THE CRITICAL THICKNESS AND THE SENSITIVITY FOR THIN-FILM ANALYSIS BY TOTAL REFLECTION X-RAY-FLUORESCENCE SPECTROMETRY

被引：128

作者：

KLOCKENKAMPER, R

VONBOHLEN, A

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0584-8547(89)80051-5

中图分类号：

O433 [光谱学];

学科分类号：

0703 ; 070302 ;

摘要：

引用

页码：461 / 469

页数：9

共 15 条

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