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WORKSHOP ON HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY
被引：1
作者：
THOMAS, G
GLAESER, RM
COWLEY, J
SINCLAIR, R
机构：
[1] ARIZONA STATE UNIV, TEMPE, AZ 85281 USA
[2] STANFORD UNIV, STANFORD, CA 94305 USA
关键词：
D O I：
10.1016/S0304-3991(78)80015-1
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
摘要：
引用
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页数：2
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