SEEBECK MEASUREMENTS ON RF SPUTTERED NICKEL-CHROMIUM FILMS

被引:3
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作者
WILHELM, RV [1 ]
ROLAND, JP [1 ]
机构
[1] GM CORP,RES LABS,CTR TECH,DEPT ELETR,WARREN,MI 48090
关键词
D O I
10.1063/1.323923
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
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页码:2086 / 2088
页数:3
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