A COMPUTER-AIDED METHOD FOR THE ANALYSIS OF CRYSTAL ORIENTATION FROM TRANSMISSION ELECTRON-DIFFRACTION PATTERNS OBTAINED USING A SINGLE-TILTING STAGE

被引：1

作者：

TAKAHASHI, Y ^{[1
]}

SUGA, T ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV TOKYO, ADV SCI & TECHNOL RES CTR, TOKYO 113, JAPAN

来源：

JOURNAL OF THE JAPAN INSTITUTE OF METALS | 1991年 / 55卷 / 05期

关键词：

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; DIFFRACTION PATTERN; EWALD SPHERE; CRYSTAL ORIENTATION; INDEXING; ONE AXIS TILTING; ORTHOGONAL MATRIX; EULER-OLINDE-RODRIGUES PARAMETER; EIGEN VECTOR; COMPUTER;

D O I：

10.2320/jinstmet1952.55.5_605

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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页数：2