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INVESTIGATION OF ALPHA-PARTICLE-INDUCED SOFT ERRORS IN A 65536-BIT VMOS DYNAMIC MEMORY
被引：0
|作者：
URL, KH
EDWARDS, DG
机构：
来源：
SIEMENS FORSCHUNGS-UND ENTWICKLUNGSBERICHTE-SIEMENS RESEARCH AND DEVELOPMENT REPORTS
|
1980年
/
9卷
/
03期
关键词：
Compendex;
D O I：
暂无
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
DATA STORAGE, SEMICONDUCTOR
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页码：128 / 131
页数：4
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