HIGH-TEMPERATURE APPARATUS FOR MEASURING THERMAL DIFFUSE X-RAY-SCATTERING

被引：0

作者：

CORNER, G ^{[1
]}

FERRIER, WG ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV DUNDEE,CARNEGIE LAB PHYS,DUNDEE,SCOTLAND

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA SECTION A | 1975年 / 31卷

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

引用

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页码：S241 / S241

页数：1

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