CHARGING OF SPACECRAFT MATERIALS SIMULATED IN A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

被引：3

作者：

BALMAIN, KG ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV TORONTO,DEPT ELECTR ENGN,TORONTO M5S 1A4,ONTARIO,CANADA

来源：

ELECTRONICS LETTERS | 1973年 / 9卷 / 23期

关键词：

Engineering Village;

D O I：

10.1049/el:19730401

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：544 / 546

页数：3

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共 5 条

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