VARIATION OF MICROSTRUCTURE IN EPILAYERS OF GAINASP/GAAS AND GAINAS/INP WITH HEAT-TREATMENT

被引:0
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作者
IWAMATSU, T
KUWANO, N
OKI, K
机构
[1] KYUSHU UNIV,DEPT MAT SCI TECHNOL,FUKUOKA 812,JAPAN
[2] KYUSHU UNIV,GRAD SCH ENGN SCI,FUKUOKA 812,JAPAN
来源
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1989年 / 38卷 / 03期
关键词
D O I
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中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
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