A HARDWARE APPROACH TO SELF-TESTING OF LARGE PROGRAMMABLE LOGIC-ARRAYS

被引：3

作者：

DAEHN, W ^{[1
]}

MUCHA, J ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV HANOVER,LEHRSTUHL THEORET ELEKTROTECH,HANOVER,FED REP GER

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS | 1981年 / 28卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1109/TCS.1981.1084933

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页数：5