USE OF SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE FOR STUDY ON WEARING PHENOMENA OF BEARINGS

被引：0

作者：

SCHMIDT, U

SCHMIDT, PF

HELLWIG, R

机构：

[1] TECH UNIV HANOVER,INST MASCHINENELEMENTE,D-3000 HANOVER,FED REP GER

[2] UNIV MUNSTER,INST MED PHYS,D-4400 MUNSTER,FED REP GER

来源：

MIKROSKOPIE | 1978年 / 34卷 / 5-6期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页数：1

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