IMAGING AND SMALL SPOT ANALYSIS WITH ESCA

被引：8

作者：

ALLISON, DA

ANATER, TF

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0368-2048(87)80005-1

中图分类号：

O433 [光谱学];

学科分类号：

0703 ; 070302 ;

摘要：

引用

页码：243 / 262

页数：20

共 6 条

[1] PHOTOELECTRON SPECTROMICROSCOPY [J].

BEAMSON, G ;

PORTER, HQ ;

TURNER, DW .

[2] FAST OPTICAL POSITION-SENSITIVE DETECTOR FOR MCPHERSON ESCA-36 [J].

BERTRAND, PA ;

KALINOWSKI, WJ ;

TRIBBLE, LE ;

TOLENTINO, LU .

[3] IMAGING XPS - A NEW TECHNIQUE - PRINCIPLES [J].

GURKER, N ;

EBEL, MF ;

EBEL, H .

[4] SCANNING ESCA - NEW DIMENSION FOR ELECTRON-SPECTROSCOPY [J].

HOVLAND, CT .

LAMPTON, M ;

CARLSON, CW .

[6]

WATSON JM, 1973, Patent No. 3766381