NEUTRON HARDNESS ASSURANCE FOR POWER TRANSISTORS

被引：2
作者：
NIEHAUS, D
FRANK, M
STOLL, E
SWICK, E
机构：
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1970年 / NS17卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1109/TNS.1970.4325783
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
引用
收藏
页码：154 / &
相关论文
共 8 条
  • [1] DIXON WJ, 1969, INTRODUCTION STATIST
  • [2] DRAPER N, 1966, APPLIED REGRESSION A
  • [3] HAHN LA, 1969, IEEE T ELECTRON DEVI
  • [4] LARIN F, 1968, RADIATION EFFECTS SE, P173
  • [5] LEGER R, 1969, E2415 MASS I TECHN
  • [6] REICH B, 1968, IEEE T ELECTRON DEVI
  • [7] SZE SM, 1969, PHYSICS SEMICONDUCTO, P111
  • [8] 1970, F0470169C0170 CONTR
1