STRUCTURAL CHARACTERIZATION OF AMORPHOUS-SEMICONDUCTOR HETEROJUNCTIONS BY INSITU XPS

被引:0
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作者
KAWASAKI, M
NAKANO, M
MATSUZAKI, Y
KOINUMA, H
机构
关键词
D O I
10.1016/0022-3093(89)90711-4
中图分类号
TQ174 [陶瓷工业]; TB3 [工程材料学];
学科分类号
0805 ; 080502 ;
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