USE OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPY AND DIFFRACTION FOR ANALYSIS OF SURFACE STRUCTURAL DEFECTS

被引：0

作者：

LAGALLY, MG ^{[1
]}

MO, YW ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV WISCONSIN,DEPT MET & MINERAL ENGN,MADISON,WI 53706

来源：

ABSTRACTS OF PAPERS OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY | 1988年 / 195卷

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

引用

页码：85 / COLL