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THE EFFECT OF ANNEALING TEMPERATURE ON HOT-CARRIER HARDNESS, AND ACCELERATION TESTING FOR HOT-CARRIER-INDUCED DEGRADATION
被引：0
作者：
SHIMAYA, M
SHIMOYAMA, N
SHIONO, N
机构：
来源：
DENKI KAGAKU
|
1990年
/
58卷
/
07期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号：
081704 ;
摘要：
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页码：638 / 643
页数：6
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