LATTICE-PARAMETER MEASUREMENTS IN EPITAXIC LAYERS

被引：2
作者：
LIND, MD
GERTNER, ER
RODE, JP
ANDREWS, AM
机构：
来源：
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY | 1978年 / 11卷 / OCT期
关键词：
D O I：
10.1107/S0021889878014211
中图分类号：
O6 [化学];
学科分类号：
0703 ;
摘要：
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页数：1
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