COMMON CAUSE FAILURE AVAILABILITY MODEL

被引：6
作者：
DHILLON, BS
机构：
来源：
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1978年 / 17卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1016/0026-2714(78)90439-0
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：583 / 584
页数：2
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共 9 条
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