DESIGN TECHNIQUES FOR TESTABLE EMBEDDED ERROR CHECKERS

被引：6
作者：
MCCLUSKEY, EJ
机构：
[1] Center for Reliable Computing, ERL-460, Computer Systems Laboratory, Stanford University, Stanford
来源：
COMPUTER | 1990年 / 23卷 / 07期
基金：
美国国家科学基金会;
关键词：
D O I：
10.1109/2.56855
中图分类号：
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
[No abstract available]
引用
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页码：84 / 88
页数：5
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共 10 条
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