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LASER-MICROPROBE-MASS-ANALYZER LAMMA - NEW ANALYSIS METHOD FOR RESEARCH AND TECHNOLOGY
被引:0
作者
:
WECHSUNG, R
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机构:
UNIV FRANKFURT,INST BIOPHYS,D-6000 FRANKFURT,FED REP GER
WECHSUNG, R
HILLENKAMP, F
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UNIV FRANKFURT,INST BIOPHYS,D-6000 FRANKFURT,FED REP GER
HILLENKAMP, F
KAUFMANN, R
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KAUFMANN, R
NITSCHE, R
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机构:
UNIV FRANKFURT,INST BIOPHYS,D-6000 FRANKFURT,FED REP GER
NITSCHE, R
VOGT, H
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机构:
UNIV FRANKFURT,INST BIOPHYS,D-6000 FRANKFURT,FED REP GER
VOGT, H
机构
:
[1]
UNIV FRANKFURT,INST BIOPHYS,D-6000 FRANKFURT,FED REP GER
[2]
UNIV DUSSELDORF,LEHRSTUHL KLIN PHYSIOL,INST PHYSIOL,D-4000 DUSSELDORF 1,FED REP GER
来源
:
MIKROSKOPIE
|
1978年
/ 34卷
/ 1-2期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TH742 [显微镜];
学科分类号
:
摘要
:
引用
收藏
页码:47 / 54
页数:8
相关论文
共 3 条
[1]
HALL TA, 1974, MICROPROBE ANALYSIS
[2]
HIGH-SENSITIVITY LASER MICROPROBE MASS ANALYZER
[J].
HILLENKAMP, F
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0
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0
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机构:
GESELL STRAHLEN & UMWELT FORSCH MBH,D-8042 NEUHERBERG,FED REP GER
HILLENKAMP, F
;
UNSOLD, E
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GESELL STRAHLEN & UMWELT FORSCH MBH,D-8042 NEUHERBERG,FED REP GER
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KAUFMANN, R
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GESELL STRAHLEN & UMWELT FORSCH MBH,D-8042 NEUHERBERG,FED REP GER
KAUFMANN, R
;
NITSCHE, R
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机构:
GESELL STRAHLEN & UMWELT FORSCH MBH,D-8042 NEUHERBERG,FED REP GER
NITSCHE, R
.
APPLIED PHYSICS,
1975,
8
(04)
:341
-348
[3]
WECHSUNG R, Patent No. 540505433
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共 3 条
[1]
HALL TA, 1974, MICROPROBE ANALYSIS
[2]
HIGH-SENSITIVITY LASER MICROPROBE MASS ANALYZER
[J].
HILLENKAMP, F
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
GESELL STRAHLEN & UMWELT FORSCH MBH,D-8042 NEUHERBERG,FED REP GER
HILLENKAMP, F
;
UNSOLD, E
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GESELL STRAHLEN & UMWELT FORSCH MBH,D-8042 NEUHERBERG,FED REP GER
UNSOLD, E
;
KAUFMANN, R
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GESELL STRAHLEN & UMWELT FORSCH MBH,D-8042 NEUHERBERG,FED REP GER
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NITSCHE, R
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机构:
GESELL STRAHLEN & UMWELT FORSCH MBH,D-8042 NEUHERBERG,FED REP GER
NITSCHE, R
.
APPLIED PHYSICS,
1975,
8
(04)
:341
-348
[3]
WECHSUNG R, Patent No. 540505433
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