共 1 条
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Kornelsen E. V., 1972, Radiation Effects, V13, P227, DOI 10.1080/00337577208231184
DETECTION OF IMPLANTED IONS BY X-RAY-EMISSION ANALYSIS IN TEM
被引：0
作者：
HOU, M
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DELAVIGNETTE, P
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]
ART, A
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机构：
[1] CEN SCK,B-2400 MOL,BELGIUM
来源：
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH
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1978年
/
46卷
/
02期
关键词：
D O I：
10.1002/pssa.2210460261
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
引用
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页码：K167 / K169
页数：3
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