SCANNING MODE IN ELECTRON-MICROSCOPY

被引：0

作者：

PFEFFERKORN, G

机构：

来源：

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：80 / 112

页数：33

共 19 条

[1]

ARDENNE M, 1938, Z TECH PHYS, V19, P407

[2]

ARDENNE M, 1977, BIOTECHN UMSCHAU, V1, P368

[3]

ARDENNE MV, 1940, ELEKTRONENUBERMIKROS

[4]

ARDENNE MV, 1938, Z PHYS, V109, P553, DOI DOI 10.1007/BF01341584

[5]

BLASCHKE R, EM10919772 NV PHIL G

[6]

BLASCHKE R, 1974, BEDO, V7, P33

BOYDE, A .

[8]

CHRISTENHUSZ R, 1968, BEITR ELEKTRONENMIKR, V1, P67

[9]

CREWE AV, 1970, 7 C INT MICR EL GREN, V1

[10]

CREWE AV, 1970, 7TH P INT C EL MICR, V1, P209