A METHOD OF X-RAY-DIFFRACTION EXAMINATION OF THIN SUPERCONDUCTING FILMS

被引：0
作者：
MALYGIN, ND
SHCHUROV, AF
GRACHEVA, TA
机构：
来源：
INDUSTRIAL LABORATORY | 1992年 / 58卷 / 09期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要：
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页码：840 / 843
页数：4
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