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A METHOD OF MONITORING THIN CURRENT-CONDUCTING COATINGS AND FILMS
被引：0
作者：
GAVRILIN, VV
GRIGULIS, YK
机构：
来源：
SOVIET JOURNAL OF NONDESTRUCTIVE TESTING-USSR
|
1980年
/
16卷
/
12期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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页码：876 / 882
页数：7
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