AN EMISSOMETER WITH HIGH-ACCURACY FOR DETERMINATION OF THE TOTAL HEMISPHERICAL EMITTANCE OF SURFACES

被引:19
作者
BEENS, WW
SIKKENS, M
VERSTER, JL
机构
来源
JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1980年 / 13卷 / 08期
关键词
D O I
10.1088/0022-3735/13/8/018
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
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页数:4
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